logo
منزل المنتجاتمعدات التجارب غير المدمرة

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

شهادة
الصين HUATEC  GROUP  CORPORATION الشهادات
الصين HUATEC  GROUP  CORPORATION الشهادات
زبون مراجعة
مجموعة واسعة من المنتجات NDT ، يمكننا الحصول على جميع في مجموعة huatec. نحن نفضل أن نشتري منها. رودولف Shteinman روسيا

—— رودولف شتينمان

أنا أحب الخدمة ، والاستجابة السريعة للغاية ، والعمل المهني. ارت تركيا

—— اريت كايا

اختبار صلابة huatec ، نوعية جيدة جدا ، ونحن راضون جدا مع اختبار صلابة المحمولة RHL-50. كومارين غوفندر سوتيه أفريكا

—— كومارين غوفندر

ابن دردش الآن

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application
High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

صورة كبيرة :  High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

تفاصيل المنتج:
مكان المنشأ: الصين
اسم العلامة التجارية: HUATEC
إصدار الشهادات: CE
شروط الدفع والشحن:
الحد الأدنى لكمية: 1 مجموعة
تفاصيل التغليف: تغليف الكرتون الخارجي
وقت التسليم: 5-7 أيام عمل بعد استلام المبلغ المدفوع
شروط الدفع: / تي تي، ويسترن يونيون، بايبال
القدرة على العرض: 10 مجموعات / شهر

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

وصف
الطريقة المركبة: اكتب 1-3 مركب نموذج المادة الأساسية: PZ44
التسامح الافتراضي: ± 0.05 ملم تردد مركب بلوري واحد: 5-10 ميجا هرتز
تردد مركب السيراميك: 0.5-15 ميجا هرتز
إبراز:

ceramic single crystal wafer,NDT sensor composite wafer,high precision testing wafer

,

NDT sensor composite wafer

,

high precision testing wafer

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application


Performance Features

  • High sensitivity
  • High bandwidth
  • Low acoustic impedance
  • Good matching with water / human tissue / tested medium
  • Low ringing time
  • High signal-to-noise ratio

1 Type 1-3 ceramic composite wafers Example: Frequency MHz/ Length × width mm
Overall dimensions
Wafer length L(mm)   Default tolerance±0.05mm Note:
The single crystal composite frequency is 5-10 MHZ, and the ceramic composite frequency is 0.5-15 MHZ. Other frequencies require technical confirmation
Wafer width W(mm)   Default tolerance±0.05mm
Wafer thickness H(mm)/ wafer frequency(MHz)   Default tolerance for thickness±0.005mm
pitch(mm) (The size of the small crystal column is added with a knife slit) It would be best if the customer could provide it. Some Osos have default Settings
Knife slit(mm)  
Performance parameters
Composite method Type 1-3 composite
Base material model PZ44
Process requirements
Does the electrode need to be edge-wrapped When edge banding is required, chamfering will be done by default. The drawings provided by the customer are attached
Is an isolation slot needed When an isolation tank is required, the customer shall provide the drawings (including dimensions and polarity) as attached
Coating requirements PVD:Gilding
Whether polarization is needed Default polarization
Whether the positive and negative poles are marked By default, the red marker dot is the positive pole
Other special requirements Please describe it in detail if necessary
Test report
ULSO LOGO report
Logo-free report  
Packaging requirements
Independent packaging
Not packaged independently  


Application

  • Ultrasonic flaw detection NDT probe
  • Medical ultrasound transducer
  • Underwater acoustic transducer
  • Phased array probe
  • High frequency ultrasonic sensor

    High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application 0

    High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application 1

تفاصيل الاتصال
HUATEC GROUP CORPORATION

اتصل شخص: Ms. Shifen Yuan

الهاتف :: 8610 82921131,8618610328618

الفاكس: 86-10-82916893

إرسال استفسارك مباشرة لنا (0 / 3000)

منتجات أخرى